利用表面分析、显微、衍射等高端仪器，对材料表面与微观结构进行高精度表征。
以下为本类别涵盖的全部测试项目，点击任一链接可查看该项目的详细测试说明、适用标准、方法流程与设备信息。
| 序号 | 测试项目名称 | 详情页 |
|---|---|---|
| 1 | XPS 光电子能谱分析 | 查看详情 → |
| 2 | AES 俄歇能谱分析 | 查看详情 → |
| 3 | SEM 扫描电镜分析 | 查看详情 → |
| 4 | EDS 能谱分析 | 查看详情 → |
| 5 | TEM 透射电镜分析 | 查看详情 → |
| 6 | FIB 聚焦离子束分析 | 查看详情 → |
| 7 | AFM 原子力显微镜分析 | 查看详情 → |
| 8 | SIMS 二次离子质谱分析 | 查看详情 → |
| 9 | XRD 衍射分析 | 查看详情 → |
| 10 | FTIR 红外光谱分析 | 查看详情 → |
| 11 | Raman 拉曼光谱分析 | 查看详情 → |