测试项目总览
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材料高端分析
电子制造领域
材料高端分析
利用 FIB/TEM/XPS/AES/SIMS/AFM/EBSD 等微纳米尺度表征手段（共 7 项测试）
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测试项目列表
1. FIB 聚焦离子束切割
fib.html
2. TEM 透射电镜分析
tem.html
3. XPS 光电子能谱分析
xps.html
4. AES 俄歇能谱分析
aes.html
5. SIMS 二次离子质谱分析
sims.html
6. AFM 原子力显微镜分析
afm.html
7. EBSD 背散射衍射分析
ebsd.html