切片分析

光学显微观察

在光学显微镜下观察截面形貌、组织与缺陷。

1测试概述

光学显微观察利用金相显微镜的明场、暗场、偏光等照明方式,在不同放大倍数下观察切片截面的组织、镀层、界面、缺陷等形貌特征,并进行拍照记录和初步测量。

2测试目的

3适用标准

GB/T 13298-2015 金属显微组织检验方法
GB/T 13299-1991 钢的显微组织评定方法

注:以上为行业常用参考标准,具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。

4测试方法与流程

4.1 样品准备

4.2 测试条件与参数

参数项要求/范围说明
放大倍数50×–1000×物镜 5×/10×/20×/50×/100×
照明方式明场/暗场/偏光按样品选择
数值孔径 NA0.13–0.9决定分辨率
相机分辨率≥500 万像素用于图像记录

4.3 测试步骤

  1. 将试样放在载物台上,低倍物镜定位目标区域。
  2. 依次切换高倍物镜,调焦至清晰。
  3. 观察整体形貌,记录缺陷位置和类型。
  4. 在多个视场拍照,保存图像。
  5. 用图像分析软件测量厚度、长度等参数。
  6. 标注关键位置,为 SEM 分析做标记。

5主要设备与仪器

6结果与判定

主要结果参数

判定依据

依据产品图纸、规范或相关标准对缺陷进行判定。如气孔大小、裂纹长度、镀层厚度是否在允许范围内。

7注意事项

安全提示:侵蚀剂多为酸性或腐蚀性试剂,需佩戴手套在通风橱内操作;高倍物镜油浸时注意镜头清洁。