TC 技术咨询
新器件可靠性评估
新导入/新研发器件可靠性摸底与寿命评估
1测试概述
新器件可靠性评估针对新导入或新研发器件，在正式量产前通过摸底应力、失效分析与寿命建模，提前识别主要失效机理、薄弱环节与可靠性水平，输出改进建议与准入结论。
2测试目的
- 识别新器件主要失效机理与薄弱环节；
- 通过摸底应力评估可靠性水平与寿命；
- 暴露设计/工艺早期问题并推动改进；
- 为量产准入与规格制定提供依据。
3适用标准
JESD47
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
JESD22 系列
环境/寿命应力试验方法
AEC-Q100 / AEC-Q101
车规可靠性鉴定框架参考
注：以上为行业常用参考标准，具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。
4测试方法与流程
4.1 样品准备
- 工程样片/小批量新器件；
- 设计与工艺信息；
- 预期应用与可靠性目标。
4.2 测试条件与参数
| 参数项 | 要求/范围 | 说明 |
|---|
| 摸底应力 | TC/HAST/HTRB/HTSL 等 | 组合考核 |
| 失效分析 | 电性+解剖 | 机理定位 |
| 寿命建模 | Arrhenius/Coffin-Manson | 外推寿命 |
| 抽样 | 按摸底目标分组 | 覆盖薄弱点 |
4.3 测试步骤
- 明确可靠性目标与薄弱机理假设；
- 设计摸底应力矩阵与抽样；
- 实施应力并节点监测、失效定位；
- 对失效件做 FA，确定根因；
- 建模评估寿命，输出改进与准入建议。
5主要设备与仪器
- 环境应力试验设备
- FA 分析平台（电性/SAT/开封/SEM）
- 寿命数据建模工具
6结果与判定
主要结果参数
- 主要失效机理与薄弱点；
- 各应力下失效时间分布；
- 外推寿命与失效率预估。
判定依据
根据主要失效机理、应力裕量与外推寿命是否满足目标，给出可量产/需改进后再评估/不可准入的结论及改进项。
7注意事项
安全提示：应力与解剖试验遵守各单项安全规程。
- 摸底阶段重在暴露问题，不宜只看是否通过；
- 失效分析深度决定改进方向有效性；
- 寿命外推模型需有物理依据；
- 建议在设计早期介入，降低改造成本。