TC 技术咨询
失效分析技术培训
面向工程团队的 FA 方法与实战培训
1测试概述
失效分析技术培训面向研发、质量与工艺工程师,系统讲授失效分析思路、常用分析手段(电性、无损、开封、显微、热点定位)、典型失效机理与案例演练,提升团队自主分析与闭环能力。
2测试目的
- 建立系统的 FA 思路与分析流程;
- 掌握电性、无损、解剖、显微等手段的选择与判读;
- 熟悉半导体常见失效机理与典型案例;
- 提升团队从失效到根因再到纠正措施的闭环能力。
3适用标准
MIL-STD-883 / MIL-STD-750
器件试验与分析方法体系
JESD22 系列 / JESD47
可靠性试验与鉴定方法
行业 FA 实践资料
失效分析流程与案例库
注:以上为行业常用参考标准,具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。
4测试方法与流程
4.1 样品准备
- 企业实际失效案例样品(脱敏后);
- 参训人员岗位与基础情况;
- 培训目标与课时安排。
4.2 测试条件与参数
| 参数项 | 要求/范围 | 说明 |
| 培训形式 | 理论+案例+实操 | 按需定制 |
| 课程模块 | 电性/无损/开封/显微/热点 | 体系覆盖 |
| 案例演练 | 真实失效复盘 | 闭环训练 |
| 时长 | 1~5 天可选 | 依需求 |
4.3 测试步骤
- 调研参训对象与实际失效痛点;
- 定制课程大纲与案例;
- 理论授课:FA 流程、手段与机理;
- 实操/案例演练与讨论;
- 考核答疑并输出企业 FAQ/流程建议。
5主要设备与仪器
- 电性能/SAT/X 光/SEM 等演示设备(如实验室培训)
- 培训课件与案例库
- 实操工位与样品
6结果与判定
主要结果参数
- FA 流程与方法掌握程度;
- 案例分析与根因定位能力;
- 企业内部 FA 闭环流程建议。
判定依据
以培训后考核与案例演练表现评估掌握程度,输出可落地的企业内部 FA 流程与纠正措施模板。
7注意事项
安全提示:涉及实操设备(X 光、强酸、SEM 等)时,严格遵守对应设备安全规程与防护要求。
- 培训应结合企业自身案例,避免纯理论;
- 强调 FA 不可逆原则:先无损后破坏;
- 根因须闭环到纠正措施,而非只定位现象;
- 建议配套建立企业 FA 报告模板与案例库。