ECM/CAF 测试
SIR 表面绝缘电阻测试
在加速湿热偏置条件下评定表面绝缘电阻（SIR）
1测试概述
SIR（Surface Insulation Resistance，表面绝缘电阻）测试在温湿度循环与直流偏置下，用梳状图形试样测量导体间表面绝缘电阻，用于评估助焊剂残留、工艺清洁度与材料在潮湿环境下的漏电倾向，是免清洗工艺与组装可靠性的重要判据。
2测试目的
- 评定助焊剂/焊剂残留对绝缘的影响
- 验证清洗工艺效果与清洁度
- 监控离子污染导致的漏电风险
- 为材料与工艺选型提供数据
3适用标准
IPC-TM-650 2.6.3.3
Flux SIR (Surface Insulation Resistance) Test
IPC-9201
Handbook and Guide for SIR
J-STD-001
Requirements for Soldered Electrical and Electronic Assemblies
注：以上为行业常用参考标准，具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。
4测试方法与流程
4.1 样品准备
- 专用 SIR 梳状 coupon（含/不含焊剂）
- 按实际工艺焊接并冷却
- 试验前在规定条件下测量初始值
4.2 测试条件与参数
| 参数项 | 要求/范围 | 说明 |
|---|
| 温湿度循环 | 25~65 ℃ / 90%RH | 循环或恒温恒湿 |
| 偏置电压 | 50 V DC | 常用 |
| 测量电压 | 100 V | 高阻计 |
| 试验时长 | 7 天（168 h）常用 | 周期测电阻 |
4.3 测试步骤
- 试样接入偏压与测量回路
- 放入湿热箱按循环运行
- 在节点测量表面绝缘电阻
- 与初始及合格限比较
- 必要时配合离子色谱分析
5主要设备与仪器
- 湿热循环试验箱
- 高阻计/微电流计
- 直流偏置电源
- SIR 测试夹具
6结果与判定
主要结果参数
- 各测点表面绝缘电阻值（Ω）
- 与初始值变化、漏电电流
判定依据
按 IPC/J-STD-001 规定（如 SIR 不低于 1×10⁸ Ω 且无明显下降）判定；电阻持续偏低或下降提示离子残留/工艺问题。
7注意事项
安全提示：高阻测量与湿热环境，注意接地与防触电。
- 测量前须在规定温湿度平衡
- 夹具与导线绝缘须足够
- 避免污染指尖接触图形区
- 应在相同节点温度下读数以利比较