ECM/CAF 测试
CAF 电化学迁移测试
导电阳极丝（CAF）生长导致孔-盘间绝缘劣化评价
1测试概述
CAF（Conductive Anodic Filament，导电阳极丝）是在湿热与直流偏置下，阳极铜沿玻纤布与树脂界面发生电化学迁移、生长出导电丝状通道的现象，可导致相邻过孔/盘之间绝缘下降甚至短路。测试在恒温恒湿偏置条件下监测绝缘电阻变化并切片确认。
2测试目的
- 评估 PCB 孔壁与盘间的 CAF 抗性
- 验证基材、玻纤处理与工艺对 CAF 的影响
- 暴露高湿偏置下的潜在短路隐患
- 为选材与工艺优化提供依据
3适用标准
IPC-TM-650 2.6.14.1
Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test
IPC-9202
Equipment for the Testing of Intermetal Dielectric Integrity
IEC 60068-2-67
Environmental testing — Test Cy: Damp heat, steady state
注：以上为行业常用参考标准，具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。
4测试方法与流程
4.1 样品准备
- 专用 CAF 测试 coupon（孔-盘/孔-孔梳状图形）
- 测试前测量初始绝缘电阻并记录
- 试样清洁、干燥后密封存放
4.2 测试条件与参数
| 参数项 | 要求/范围 | 说明 |
|---|
| 试验温湿度 | 85 ℃ / 85%RH（常用） | 按规格 |
| 偏置电压 | 20~100 V DC | 依导体间距 |
| 持续时间 | 500~1000 h | 常用 1000 h |
| 监测 | 定期/连续测绝缘电阻 | 记录失效时间 |
4.3 测试步骤
- 将 CAF coupon 接入偏置与电阻监测回路
- 放入恒温恒湿箱并加规定偏压
- 周期监测绝缘电阻变化
- 出现电阻骤降即记录失效时间
- 试验后切片显微镜确认 CAF 通道
5主要设备与仪器
- 恒温恒湿试验箱
- 可编程直流偏置电源
- 高阻计/绝缘电阻测试系统
- 切片与金相显微镜
6结果与判定
主要结果参数
- 各试样绝缘电阻-时间曲线
- 失效时间与失效数
- 切片确认的 CAF 生长位置
判定依据
按客户/产品规范规定的偏压、温湿度与时长内绝缘电阻不低于阈值且无短路判为合格；出现 CAF 通道即判定不合格。
7注意事项
安全提示：高电压与湿热环境，试验箱开门前断电降温，防止触电与烫伤。
- 样品须彻底清洁残留离子
- 偏压极性与间距须按设计
- 监测电阻量程要足够大
- 切片确认以区分其他失效机理