测试项目总览
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电子元器件失效分析
电子制造领域
电子元器件失效分析
对失效半导体器件、分立与集成电路进行电测、开封、显微与热点定位的系统失效分析（共 9 项测试）
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测试项目列表
1. 电性能测试（IV曲线）
electrical-iv.html
2. 外观/内部目检
visual-inspection.html
3. X-Ray 检测
xray.html
4. 超声波扫描（SAT/C-SAM）
sat-csam.html
5. 化学/机械开封
decapsulation.html
6. SEM/EDS 分析
sem-eds.html
7. 热点定位（EMMI/OBIRCH）
hot-spot.html
8. FIB 定点切割
fib-cut.html
9. ESD/Latch-up 测试
esd-latchup.html