汽车零部件清洁度

颗粒成分分析(SEM/EDS)

滤膜上颗粒的材质与来源鉴定

1测试概述

SEM/EDS 分析依据 ISO 16232-6,用扫描电镜观察滤膜上颗粒形貌并配合能谱仪测定元素组成,判断颗粒是金属切屑、磨料还是环境杂质,追溯来源。

2测试目的

3适用标准

ISO 16232-6:2018 Road vehicles — Cleanliness — Part 6: Particle analytical methods by SEM/EDX
VDA 19.1:2015 Technical cleanliness — Particle contamination of functional relevant assemblies

注:以上为行业常用参考标准,具体执行标准以受托实验室现行有效版本及 CNAS/CMA 认可范围为准。

4测试方法与流程

4.1 样品准备

4.2 测试条件与参数

参数项要求/范围说明
加速电压如 15~20 kV按元素
目标颗粒≥25/50μm 关键颗粒逐个分析
元素范围B~UEDS
形貌SEM 二次电子像记录
校准标样定量定期

4.3 测试步骤

  1. 滤膜喷金/喷碳后入 SEM
  2. 定位目标颗粒并拍照
  3. EDS 点扫/面扫测定元素
  4. 结合形貌与成分判断材质
  5. 输出颗粒成分清单与来源推断

5主要设备与仪器

6结果与判定

主要结果参数

判定依据

关键颗粒成分无异常磨损金属超标,判清洁度可控;出现大量异常金属切屑提示系统磨损,需进一步排查。

7注意事项

安全提示:SEM 高压与真空环境按规程操作,防止机械泵油污染。