测试项目总览
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RA 器件可靠性
半导体领域
RA 器件可靠性
器件可靠性试验(Reliability Assessment):通过环境与应力考核评估器件寿命与质量水平。
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本类别测试项目列表
序号
测试项目
操作
1
高温贮存试验
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2
高温反偏试验(HTRB)
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3
高温高湿偏置试验(HAST/THB)
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4
温度循环试验
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5
功率老化试验
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6
ESD 测试
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7
Latch-up 闩锁测试
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8
AEC-Q 系列评价
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